Каталог

SEAMARK X-Ray XCT8500. Система рентгеновского контроля для печатных плат

картинка SEAMARK X-Ray XCT8500. Система рентгеновского контроля для печатных плат
Артикул
214K000003
Описание

SEAMARK X-Ray XCT8500 это автономная промышленная рентгеновская инспекционная система КT/3D. Оснащена рентгеновской трубкой открытого типа и инновационным интеллектуальным инспекционным программным обеспечением собственной разработки, а также профессиональным программным обеспечением для анализа и визуализации КТ.

Обеспечивает инспекцию под произвольным углом в диапазоне 360° с возможностью обнаружения дефектов размером менее 1 мкм. Система подходит для контроля качества, 3D-измерений и неразрушающего анализа. Способна характеризовать особенности внутренней структуры образца в микроскопическом масштабе и, в сочетании с программным обеспечением для качественного и количественного анализа, позволяет проводить измерения и анализ образцов под разными углами, обеспечивая достоверные данные для инспекции качества продукции.

Особенности

  • Разрешающая способность при инспекции: геометрическое увеличение до 2000X, возможность контроля дефектов размером менее 1 мкм.
  • Наблюдение в диапазоне 360°: осмотр дефектов изделия под любым углом.
  • Уникальная технология автоматического следования: обеспечивает расположение области инспекции в центре изображения во время наклона и вращения детектора.
  • Функции компьютерной томографии: поддерживает как плоскостную, так и конусно-лучевую компьютерную томографию.
  • Интеллектуальное инспекционное программное обеспечение: оснащен инновационным интеллектуальным инспекционным программным обеспечением собственной разработки.
  • Улучшение изображения: новые алгоритмы обработки для улучшения изображений и предустановленные фильтры.
  • Быстрое программирование: простота и эффективность редактирования шаблонов инспекций с помощью мастера.
  • Прослеживаемость данных штрих-кода: привязка информации штрих-кода к результатам инспекции и поддержка интеграции с системами MES.
  • Индивидуальные алгоритмы инспекции: интеллектуальные алгоритмы инспекции на основе искусственного интеллекта можно настроить в соответствии с потребностями пользователя.
  • Многочисленные меры безопасности: мониторинг излучения в режиме реального времени, предохранительная блокировка и автоматическое отключение источника рентгеновского излучения при простое.
  • Алгоритм слияния со сверхвысоким разрешением: технология слияния изображений и сверхвысокого разрешения, позволяющая выделить особенности дефектов.
  • Функция сшивки и навигации: автоматическое сшивание изображений из каждой сканированной области для создания общего изображения, которое можно использовать в качестве навигационной карты.

Области применения

  • Инспекция полупроводников: инспекция TSV (сквозные отверстия через кремний), перевернутых кристаллов, медных столбиков, малых кристаллов и инспекция материалов низкой плотности.
  • Датчики, реле, предохранители, микродвигатели (MEMS, MOEMS), кабели и разъемы.
  • Различные материалы: инспекция пластика, керамики, оптических компонентов, малых титановых отливок и алюминиевых отливок.
  • Применяется для инспекции качества пайки электронных компонентов, компонентов BGA, интегральных схем (IC) и их соединительных проводов, корпусов полупроводников и внутренних соединений, биполярных транзисторов с изолированным затвором (IGBT), дефектов полупроводниковых пластин (WLCSP), в том числе отсутствующих компонентов, смещения, образования перемычек при пайке, недостаточного припоя, холодных соединений, подъема выводов компонентов, пустот и исправление дефектов пайки компонентов BGA.

Характеристики

Модель XCT8500
Рентгеновская трубка
Тип рентгеновской трубки Открытый микрофокусный прострельный рентгеновский источник
Диапазон напряжения трубки 20–160 кВ
Диапазон тока трубки 0,01 мА ~ 1,0 мА
Максимальная мощность трубки 64 Вт
Максимальная целевая мощность 15 Вт
Минимальное расстояние до объекта (FOD) 300 мкм
Размер пятна микрофокуса <2 мкм
Минимальная разрешающая способность при инспекции дефектов <1 мкм
Плоскопанельный детектор
Тип плоскопанельного детектора Плоскопанельный детектор из аморфного кремния
Пиксельная матрица 1536×1536
Поле визуализации 154×154 мм
Разрешение 5,0 lp/мм
Частота кадров изображения (1x1) 30 к/с
Бит аналого-цифрового преобразования 16 бит
Параметры 3D/КТ (дополнительная функция)
Профессиональная 3D-визуализация Поддерживает режимы ACT и PCT
Анализ 3D-визуализации Профессиональное программное обеспечение для анализа 3D-визуализации
Габаритные параметры
Максимальный размер образца 645×635 мм
Максимальный размер области инспекции 500×500 мм
Геометрическое увеличение изображения 2000×
Основные параметры
Электропитание 220 В, 10 A, 50–60 Гц
Операционная система Графическая рабочая станция DELL OptiPlex 7000MT i9 12-го поколения (или эквивалент с более высокой производительностью)
Габаритные размеры (Д×Ш×В) 1500×1650×2250 мм
Вес нетто прибл. 3210 кг

Комплектация

  • SEAMARK X-Ray XCT8500 система рентгеновского контроля для печатных плат.

Цена
по запросу

SEAMARK X-Ray XCT8500 это автономная промышленная рентгеновская инспекционная система КT/3D. Оснащена рентгеновской трубкой открытого типа и инновационным интеллектуальным инспекционным программным обеспечением собственной разработки, а также профессиональным программным обеспечением для анализа и визуализации КТ.

Обеспечивает инспекцию под произвольным углом в диапазоне 360° с возможностью обнаружения дефектов размером менее 1 мкм. Система подходит для контроля качества, 3D-измерений и неразрушающего анализа. Способна характеризовать особенности внутренней структуры образца в микроскопическом масштабе и, в сочетании с программным обеспечением для качественного и количественного анализа, позволяет проводить измерения и анализ образцов под разными углами, обеспечивая достоверные данные для инспекции качества продукции.

Особенности

  • Разрешающая способность при инспекции: геометрическое увеличение до 2000X, возможность контроля дефектов размером менее 1 мкм.
  • Наблюдение в диапазоне 360°: осмотр дефектов изделия под любым углом.
  • Уникальная технология автоматического следования: обеспечивает расположение области инспекции в центре изображения во время наклона и вращения детектора.
  • Функции компьютерной томографии: поддерживает как плоскостную, так и конусно-лучевую компьютерную томографию.
  • Интеллектуальное инспекционное программное обеспечение: оснащен инновационным интеллектуальным инспекционным программным обеспечением собственной разработки.
  • Улучшение изображения: новые алгоритмы обработки для улучшения изображений и предустановленные фильтры.
  • Быстрое программирование: простота и эффективность редактирования шаблонов инспекций с помощью мастера.
  • Прослеживаемость данных штрих-кода: привязка информации штрих-кода к результатам инспекции и поддержка интеграции с системами MES.
  • Индивидуальные алгоритмы инспекции: интеллектуальные алгоритмы инспекции на основе искусственного интеллекта можно настроить в соответствии с потребностями пользователя.
  • Многочисленные меры безопасности: мониторинг излучения в режиме реального времени, предохранительная блокировка и автоматическое отключение источника рентгеновского излучения при простое.
  • Алгоритм слияния со сверхвысоким разрешением: технология слияния изображений и сверхвысокого разрешения, позволяющая выделить особенности дефектов.
  • Функция сшивки и навигации: автоматическое сшивание изображений из каждой сканированной области для создания общего изображения, которое можно использовать в качестве навигационной карты.

Области применения

  • Инспекция полупроводников: инспекция TSV (сквозные отверстия через кремний), перевернутых кристаллов, медных столбиков, малых кристаллов и инспекция материалов низкой плотности.
  • Датчики, реле, предохранители, микродвигатели (MEMS, MOEMS), кабели и разъемы.
  • Различные материалы: инспекция пластика, керамики, оптических компонентов, малых титановых отливок и алюминиевых отливок.
  • Применяется для инспекции качества пайки электронных компонентов, компонентов BGA, интегральных схем (IC) и их соединительных проводов, корпусов полупроводников и внутренних соединений, биполярных транзисторов с изолированным затвором (IGBT), дефектов полупроводниковых пластин (WLCSP), в том числе отсутствующих компонентов, смещения, образования перемычек при пайке, недостаточного припоя, холодных соединений, подъема выводов компонентов, пустот и исправление дефектов пайки компонентов BGA.

Характеристики

Модель XCT8500
Рентгеновская трубка
Тип рентгеновской трубки Открытый микрофокусный прострельный рентгеновский источник
Диапазон напряжения трубки 20–160 кВ
Диапазон тока трубки 0,01 мА ~ 1,0 мА
Максимальная мощность трубки 64 Вт
Максимальная целевая мощность 15 Вт
Минимальное расстояние до объекта (FOD) 300 мкм
Размер пятна микрофокуса <2 мкм
Минимальная разрешающая способность при инспекции дефектов <1 мкм
Плоскопанельный детектор
Тип плоскопанельного детектора Плоскопанельный детектор из аморфного кремния
Пиксельная матрица 1536×1536
Поле визуализации 154×154 мм
Разрешение 5,0 lp/мм
Частота кадров изображения (1x1) 30 к/с
Бит аналого-цифрового преобразования 16 бит
Параметры 3D/КТ (дополнительная функция)
Профессиональная 3D-визуализация Поддерживает режимы ACT и PCT
Анализ 3D-визуализации Профессиональное программное обеспечение для анализа 3D-визуализации
Габаритные параметры
Максимальный размер образца 645×635 мм
Максимальный размер области инспекции 500×500 мм
Геометрическое увеличение изображения 2000×
Основные параметры
Электропитание 220 В, 10 A, 50–60 Гц
Операционная система Графическая рабочая станция DELL OptiPlex 7000MT i9 12-го поколения (или эквивалент с более высокой производительностью)
Габаритные размеры (Д×Ш×В) 1500×1650×2250 мм
Вес нетто прибл. 3210 кг

Комплектация

  • SEAMARK X-Ray XCT8500 система рентгеновского контроля для печатных плат.

Найдем решение любого вопроса

Мы всегда готовы помочь в подборе нужных товаров